|
1998年和2000年先后发表的凉粉关于电涌保护器的重要国际技术标准，IEC61643-1和IEC61643-21都没有提及响应时间。2000年发表的IEEE标准C62.62第7.12条款对此作了明确的说明："SPD对冲击电压波前的响应特性，依赖于侵入波的上升速率、冲击源阻抗、保护器件内部电抗的作用，以及抑制元件内部导电机理所决定的响应特性。换句话说， 对波前的响应，除了受抑制元件响应速度的影响外，更多地受包括连结线阻抗在内的试验线路状态的制约。此外，在规定条件下测得的相应电压的峰值，对冲击保护目的而言，才是具有头等重要意义的特征。因此，对于本标准所述器件的典型应用而言，对波前的响应，被认为是一个可能引起误导的且没有必要的技术要求。因此，在没有特殊要求的情况下，对波前响应不规定技术要求，也不进行试验、测量、计算或认证?quot; 美国GE公司实际测量了压敏电阻抑制冲击电压的过程，得出的结论是压敏电阻在不到1ns的时间内即对冲击电压发生抑制作用，其原因是因为压敏电阻的导电机理与其它半导体器件相类似，所以本质上是很快的，即使在ns范围内页看不到明显的响应滞后。在实用中，引线和连结线的电感，完全抹杀了压敏电阻的快速响应。 6、在恶劣的电源条件下，压敏电阻能长期保持有效吗？ 在以往的应用中，跨接在电源线上的压敏电阻器出现过起火燃烧，危机临近其它元器件的事故。对此，制造者和使用者共同进行了大量研究和分析工作，采取了相应的对策，极大地降低了这类事故的概率，但尚未杜绝，因此，压敏电阻的使用安全性仍是个值得重视、需要继续研究解决的课题。压敏电阻起火燃烧的表观现象，大体上可分为老化失效和暂态过电压破坏两种类型： ①老化失效，这是指电阻体的低阻线性化逐步加剧，漏电流恶性增加且集中流入薄弱点，薄弱点材料融化，形成1kΩ左右的短路孔后，电源继续推动一个较大的电流灌入短路点，形成高热而起火。这种事故通常可以通过一个与压敏电阻串联的热熔接点来避免。热熔接点应与电阻体有良好的热耦合，当最大冲击电流流过时不会断开，但当温度超过电阻体上限工作温度时即断开。研究结果表明， 若压敏电阻存在着制造缺陷，易发生早期失效， 强度不大的电冲击的多次作用，也会加速老化过程，使老化失效提早出现。 ②暂态过电压破坏，这是指较强的暂态过电压使电阻体穿孔，导致更大的电流而高热起火。整个过程在较短时间内发生，以至电阻体上设置的热熔接点来不及熔断。在三相电源保护中，N-PE线之间的压敏电阻器烧坏起火的事故概率较高，多数是属于这一种情况。相应的对策集中在压敏电阻损坏后不起火。 (责任编辑：admin) |